| 000 | 01228ntm a2200277 i 4500 | ||
|---|---|---|---|
| 005 | 20220228110007.0 | ||
| 008 | 120601s2008 xx a sm spa d | ||
| 035 | _aTES01000631345 | ||
| 039 | _aDIG | ||
| 040 |
_aUNAMX _bspa _cUNAMX _erda |
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| 084 | _a001-01192-R2-2008 | ||
| 100 | 1 |
_aRodríguez Rosales, Antonio Alfonso _esustentante |
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| 245 | 1 | 0 |
_aMedición del Índice de Refracción Nolineal de cristales líquidos con la Técnica de Z-SCAN / _ctesis que para obtener el grado de Doctor en Ingeniería Eléctrica, presenta Antonio Alfonso Rodríguez Rosales ; asesor Roberto Ortega Martínez |
| 260 | _c2008 | ||
| 300 |
_a124 páginas : _bilustraciones |
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| 336 |
_atexto _2rdacontent |
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| 337 |
_acomputadora _2rdamedia |
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| 338 |
_arecurso en línea _2rdacarrier |
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| 502 |
_bDoctorado en Ingeniería Eléctrica _cUNAM, Facultad de Ingeniería, _d2008 |
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| 506 | _aAcceso libre | ||
| 650 | 4 | _aCristales líquidos | |
| 650 | 4 | _aÍndice de refracción | |
| 700 | 1 |
_aOrtega Martínez, R. _q(Roberto) _easesor |
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| 710 | 2 |
_aUniversidad Nacional Autónoma de México _bFacultad de Ingeniería, _einstitución que otorga el grado |
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| 856 | 4 |
_uhttp://132.248.9.195/ptd2008/agosto/0631345/Index.html _yTexto completo. |
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| 999 |
_c44113 _d44113 |
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