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Análisis, diseño y simulación de un microacelerómetro basado en SAW y MEMS / tesis que para obtener el grado de Maestro en Ingeniería Eléctrica, presenta Jaime Octavio Guerra Pulido ; asesor Pablo Roberto Pérez Alcázar

por Guerra Pulido, Jaime Octavio [sustentante] | Pérez Alcázar, Pablo Roberto [asesor] | Universidad Nacional Autónoma de México Facultad de Ingeniería [institución que otorga el grado].

Tipo de material: Texto Texto; Formato: electrónico Detalles de publicación: 2009Nota de disertación: Maestría en Ingeniería Eléctrica UNAM, Facultad de Ingeniería, 2009 Acceso en línea: Texto completo. Disponibilidad: No disponible para préstamo a domicilio:Tesis: Not for loan (2).

Analog systems for microprocessors and minicomputers / Patrick h. Garrett

por Garrett, Patrick H [autor].

Tipo de material: Texto Texto; Forma literaria: No es ficción Editor: Reston, va. : Reston publishing, c1978Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (1)Clasificación: TS158.6 G37.

Analysis and simulation of heterostructure devices / Vassil Palankovski, Rüdiger Quay

por Palankovski, Vassil [autor].

Series Computational microelectronicsTipo de material: Texto Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Editor: Wien : Springer Verlag, c2004Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (1)Clasificación: TK7871.85 P34.

Annual reliability and maintainability symposium, 1977 : proceedings

por Reliability And Maintainability Symposium Philadelphia, Penn. 1977 | Institute of Electrical and Electronics Engineers.

Tipo de material: Texto Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Editor: Philadelphia, Penn. : McGregor & Werner, c1977Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (1)Clasificación: TK7870 R45 1977.

Annual reliability and maintainability symposium, 1978 : proceedings

por Reliability and Maintainability Symposium Los Angeles, California 1978.

Tipo de material: Texto Texto; Formato: impreso Editor: Los Angeles, California : IEEE, c1978Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (1)Clasificación: TK7870 R45 1978.

Anual reliability and maintainability symposium, 1979 : proceedings

por Reliability And Maintainability Symposium Washington, D.C. USA 1979.

Tipo de material: Texto Texto; Formato: impreso Editor: Washington : IEEE, 1966-, c1979Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (1)Clasificación: TK7870 R45 1979.

Applications industrielles des mesures electroniques / Pref. par Gilbert perot.

por Zelbstein, Uri [autor].

Series Les collections de montligeon. Section techniques ; ; 27Tipo de material: Texto Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Editor: Paris : Dunod, 1950Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (1)Clasificación: TK7872.M4 Z4.

Applications of linear integrated circuits / Eugene r. hnatek

por Hnatek, Eugene R [autor].

Tipo de material: Texto Texto; Forma literaria: No es ficción Editor: New York : J. Wiley, c1975Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (1)Clasificación: TK7874 H539.

Applied electronic instrumentation and measurement / David buchla, wayne mclachlan

por Buchla, David [autor] | Mclachlan, Wayne C [autor].

Tipo de material: Texto Texto; Forma literaria: No es ficción Editor: New York : Merrill, 1992Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (1)Clasificación: TK7878.4 B79.

Automatic test equipment : Hardware, software, and management.

por Liguori, Fred [Ed.].

Series IEEE Press selected reprint seriesTipo de material: Texto Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Editor: New York : IEEE, c1974Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (1)Clasificación: TK7870 L48.

Basic electronic instrument handbook.

por Coombs, Clyde F [autor].

Tipo de material: Texto Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Editor: New York : McGraw-Hill, 1972Otro título: Electronic instrument handbook..Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (2)Clasificación: TK7878.4 C65, ...

Basic electronic test instruments : Their principles of operation.

por Turner, Rufus P [autor].

Edición: # rev. ed.Tipo de material: Texto Texto; Forma literaria: No es ficción Editor: New York : Holt, Rinehart and Winston, 1963Otro título: Electronic test instruments.Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (1)Clasificación: TK7870 T86.

Capacitive sensors : design and applications / Larry K. Baxter.

por Baxter, Larry K [autor] | Institute of Electrical and Electronics Engineers. United States Activities Board.

Tipo de material: Texto Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Idioma: ENG Editor: New York : IEEE, c1997Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (1)Clasificación: TK7870 B39 1997.

Circuit design for electronic instrumentation : Analog and digital devices form sensor to display / Dorold wobschall

por Wobschall, Dorald [autor].

Tipo de material: Texto Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Editor: New York ; México : McGraw-Hill, c1979Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (1)Clasificación: TK7878.4 W62.

Circuit troubleshooting handbook / John D. Lenk

por Lenk, John D [autor].

Tipo de material: Texto Texto; Forma literaria: No es ficción Idioma: ENG Editor: New York ; México City : McGraw-Hill, c1999Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (1)Clasificación: TK7870.2 L44.

Componentes electronicos : Descripcion tecnica y caracteristicas para estudiantes

Tipo de material: Texto Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Editor: Barcelona : Marcombo ; Berlin : Siemens Aktiengesellschaft, c1987Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (1)Clasificación: TK7870 B3818.

Components handbook / Ed. by John f. blackburn

por Blackbun, John Francis 1903- [editor].

Tipo de material: Texto Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Editor: New York : McGraw-Hill, 1949Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (1)Clasificación: K453 C65.

Contamination effects on electronic products : A basic discussion of common contaminants, their origin, effects, removal and control, and product protection against contaminants from the use environment / Carl j. tautscher

por Tautscher, Carl J [autor].

Series Electrical engineering and electronics ; 69Tipo de material: Texto Texto; Formato: impreso Editor: New York : M. Dekker, c1991Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (1)Clasificación: TK7870.27 T38.

Control electrónico de un arreglo de fase basado en elementos espirafase actuados con minimotores / tesis que para obtener el grado de Maestro en Ingeniería Eléctrica, presenta Ricardo Mota Marzano ; asesor José Ismael Martínez López

por Mota Marzano, Ricardo [sustentante] | Martínez López, José Ismael [asesor] | Universidad Nacional Autónoma de México Facultad de Ingeniería [institución que otorga el grado].

Tipo de material: Texto Texto; Formato: electrónico Detalles de publicación: 2009Nota de disertación: Maestría en Ingeniería Eléctrica UNAM, Facultad de Ingeniería, 2009 Acceso en línea: Texto completo. Disponibilidad: No disponible para préstamo a domicilio:Tesis: Not for loan (2).

Cooling of electronic equipment.

por Scott, Allan W [autor].

Tipo de material: Texto Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Editor: New York : Wiley, 1974Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (1)Clasificación: TK7870 S38.

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