difractometria de rayos X: aplicaciones al estudio de los m-ateriales de Construcción / Jose Luis Alonso Ramirez.
Tipo de material: TextoSeries Publicación No. 194 / Laboratorio Central de Ensayo de Mate-riales de ConstrucciónDetalles de publicación: Madrid, España : LCEMC Descripción: 86 pTema(s): Rayos X - Difracción - AplicacionesOtra clasificación: LCEMC No. 194 1966Tipo de ítem | Biblioteca actual | Colección | Clasificación | Copia número | Estado | Fecha de vencimiento | Código de barras | Reserva de ítems |
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Folletos | Folletos Folletos | Coleccion General | LCEMC No. 194 1966 (Navegar estantería(Abre debajo)) | 1 | Estantería cerrada | F89-6711 |
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