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		Medición del Índice de Refracción Nolineal de cristales líquidos con la Técnica de Z-SCAN / tesis que para obtener el grado de Doctor en Ingeniería Eléctrica, presenta Antonio Alfonso Rodríguez Rosales ; asesor Roberto Ortega Martínez por Rodríguez Rosales, Antonio Alfonso [sustentante] \| Ortega Martínez, R. (Roberto) [asesor] \| Universidad Nacional Autónoma de México Facultad de Ingeniería [institución que otorga el grado]. Tipo de material: Texto; Formato: electrónico Detalles de publicación: 2008Nota de disertación: Doctorado en Ingeniería Eléctrica UNAM, Facultad de Ingeniería, 2008 Acceso en línea: Texto completo. Disponibilidad: No disponible para préstamo a domicilio:Tesis: Not for loan (2). Agregar al carrito (remover)
		Physics and applications of negative refractive index materials / S. Anantha Ramakrishna, Tomasz M. Grzegorczyk por Ramakrishna, S. Anantha [autor] \| Grzegorczyk, Tomasz M [autor]. Tipo de material: Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Editor: Bellingham, Washington : Boca Raton : SPIE ; CRC Press, c2009Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (1)Clasificación: TK7871.15M48 R36. Hacer reserva Agregar al carrito (remover)

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Universidad Nacional Autónoma de México
Facultad de Ingeniería. Posgrado
Catálogo de la Biblioteca "Dr. Enzo Levi”