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		CMOS logic circuit design / John P. Uyemura por Uyemura, John P. (John Paul), 1952- [autor]. Tipo de material: Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Idioma: ENG Editor: Boston : Kluwer Academic, c1999Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (1)Clasificación: TK7871.99M44 U936. Hacer reserva Agregar al carrito (remover)
		Defect oriented testing for CMOS analog and digital circuits / by Manoj Sachdev por Sachdev, Manoj [autor]. Series Frontiers in electronic testingTipo de material: Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Idioma: ENG Editor: Boston : Kluwer Academic, c1998Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (2)Clasificación: TK7871.99M44 S33, ... Hacer reserva Agregar al carrito (remover)

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Universidad Nacional Autónoma de México
Facultad de Ingeniería. Posgrado
Catálogo de la Biblioteca "Dr. Enzo Levi”