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		Defect oriented testing for CMOS analog and digital circuits / by Manoj Sachdev por Sachdev, Manoj [autor]. Series Frontiers in electronic testingTipo de material: Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Idioma: ENG Editor: Boston : Kluwer Academic, c1998Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (2)Clasificación: TK7871.99M44 S33, ... Hacer reserva Agregar al carrito (remover)
		Design of analog CMOS integrated circuits / Behzad Razavi por Razavi, Behzad [autor]. Tipo de material: Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Idioma: ENG Editor: Boston, Massachusetts : McGraw-Hill, 2001Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (1)Clasificación: TK7874.654 R39. Hacer reserva Agregar al carrito (remover)
		Low-noise wide-band amplifiers in bipolar and cmos technologies / By zhong yuan chang, willy m. c. sansen por Chang, Zhong Yuan \| Sansen, Willy M. C [autor]. Series Kluwer inernational series in engineering and computer science ; secs 117Tipo de material: Texto; Formato: impreso Editor: Boston : Kluwer Academic, c1991Editor: Boston : Kluwer Academic, c1991Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (1)Clasificación: TK7874 C43. Hacer reserva Agregar al carrito (remover)
		Low-voltage CMOS log companding analog design / by Francisco Serra-Graells, Adoracion Rueda, and Jose L. Huertas por Serra-Graells, Francisco [autor] \| Rueda, Adoracion [autor] \| Huertas, José L. (José Luis) [autor]. Series The Kluwer international series in engineering and computer science. Analog circuits and signal processing ; ; SECS 733Tipo de material: Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Idioma: ENG Editor: Boston : Kluwer Academic, c2003Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (1)Clasificación: TK7874.66 S47. Hacer reserva Agregar al carrito (remover)