Sampling, wavelets, and tomography / John J. Benedetto, Ahmed I. Zayed, editors
Tipo de material: TextoSeries Applied and numerical harmonic analysisEditor: Boston ; Basel : Birkhäuser Verlag, c2004Descripción: xxi, 344 páginas : ilustracionesTipo de contenido: texto Tipo de medio: sin medio Tipo de portador: volumenISBN: 0817643044 (papel alcalino); 3764343044 (Basel : papel alcalino)Tema(s): Análisis armónico | Tren de ondas (Matemáticas) | Análisis de Fourier | Muestreo (Estadística) | TomografíaClasificación LoC:QA403 | S33Tipo de ítem | Biblioteca actual | Colección | Clasificación | Copia número | Estado | Fecha de vencimiento | Código de barras | Reserva de ítems |
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Libros | Libros Libros | Coleccion General | QA403 S33 (Navegar estantería(Abre debajo)) | 1 | Disponible | 113540 |
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