VLSI test principles and architectures : design for testability / edited by Laung-Terng Wang, Cheng-Wen Wu, Xiaoqing Wen
Tipo de material: TextoSeries The Morgan Kaufmann series in systems on siliconEditor: Amsterdam : San Francisco, California : Elsevier ; Morgan kaufmann, c2006Descripción: xxx, 777 páginas : ilustracionesTipo de contenido: texto Tipo de medio: sin medio Tipo de portador: volumenISBN: 0123705975 (encuadernado en tela : papel alcalino); 978-0-12-370597-6 (encuadernado en tela : papel alcalino)Tema(s): Circuitos integrados en muy gran escala -- Pruebas | Circuitos integrados en muy gran escala -- Diseño y construcciónClasificación CDD: 621.39/5 Clasificación LoC:TK7874.75 | V5767Tipo de ítem | Biblioteca actual | Colección | Clasificación | Copia número | Estado | Fecha de vencimiento | Código de barras | Reserva de ítems |
---|---|---|---|---|---|---|---|---|
Libros | Libros Libros | Coleccion General | TK7874.75 V5767 (Navegar estantería(Abre debajo)) | 1 | Disponible | 115433 |
Total de reservas: 0
compra 2013/06/06 665.45
No hay comentarios en este titulo.