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		Defect oriented testing for CMOS analog and digital circuits / by Manoj Sachdev por Sachdev, Manoj [autor]. Series Frontiers in electronic testingTipo de material: Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Idioma: ENG Editor: Boston : Kluwer Academic, c1998Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (2)Clasificación: TK7871.99M44 S33, ... Hacer reserva Agregar al carrito (remover)
		Thermal and power management of integrated circuits / Arman Vassighi and Manoj Sachdev por Vassighi, Arman, 1966- [autor] \| Sachdev, Manoj [autor]. Series Series on Integrated Circuits and SystemsTipo de material: Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Editor: New York : Springer Verlag, c2006Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (1)Clasificación: TK7874 V37. Hacer reserva Agregar al carrito (remover)

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Universidad Nacional Autónoma de México
Facultad de Ingeniería. Posgrado
Catálogo de la Biblioteca "Dr. Enzo Levi”