Lock-in thermography : basics and use for evaluating electronic devices and materials / O. Breitenstein, W. Warta, M. Langenkamp
Tipo de material:![Texto](/opac-tmpl/lib/famfamfam/BK.png)
Tipo de ítem | Biblioteca actual | Colección | Clasificación | Copia número | Estado | Fecha de vencimiento | Código de barras | Reserva de ítems |
---|---|---|---|---|---|---|---|---|
![]() |
Libros Libros | Coleccion General | TK7870.25 B74 2010 (Navegar estantería(Abre debajo)) | 1 | Disponible | 126724 |
Total de reservas: 0
No hay comentarios en este titulo.