Knowledge based systems for test and diagnosis / Ed. by g. saucier, a. ambler, m. a. breuer
Tipo de material: TextoEditor: Amsterdam : Elsevier Science, 1989Descripción: 257 páginasTipo de contenido: texto Tipo de medio: sin medio Tipo de portador: volumenISBN: 0-444-88113-1Tema(s): Sistemas expertos (Computación) -- Congresos | Ensayos (Tecnología) -- Procesamiento de datos -- CongresosClasificación LoC:QA76.76S57 | I45Tipo de ítem | Biblioteca actual | Colección | Clasificación | Copia número | Estado | Fecha de vencimiento | Código de barras | Reserva de ítems |
---|---|---|---|---|---|---|---|---|
Libros | Libros Libros | Coleccion General | QA76.76S57 I45 (Navegar estantería(Abre debajo)) | 1 | Disponible | 93942 |
Total de reservas: 0
Proceedings of the ifip wg 10.5 international workshop on knowledge based systems for test and diagnosis grenoble, france, 27-29 september, 1988
No hay comentarios en este titulo.