TY  - BOOK
AU  - Agrawala,Ashok K.
TI  - Machine recognition of patterns
T2  - IEEE Press selected reprint series
SN  - 0471030147
AV  - Q327 A37
PY  - 1977///
CY  - New York
PB  - IEEE
KW  - Reconocimiento de modelos
KW  - Sistemas
ER  -