Alonso Ramírez, José Luis <br/><br/>
difractometria de rayos X: aplicaciones al estudio de los m-ateriales de Construcción / Jose Luis Alonso Ramirez. 

 - Madrid, España : LCEMC 
 - 86 p. 
 - Publicación No. 194 / Laboratorio Central de Ensayo de Mate-riales de Construcción .