TY  - BOOK
AU  - 
AU  - 
ED  - Universidad Nacional Autonoma de Mexico.
TI  - Medicion de superficies por proyeccion de puntos
PY  - 2005///
CY  - Mexico
PB  - El autor
N1  - Tesis Maestria (Maestria en Ingenieria)-UNAM, Facultad de Ingenieria; Base Matematica Para Obtencion de Informacion Tridimensional; Metodos de luz Estructurada, El Problema de Correspondencia; Metodo de Posdamer-Altshuler; Metodo de Griffin-Narashimhan-Yee; Metodo de Maruyama-Abe; Propuesta de Utilizar Rejillas de Difraccion Rectangulares como Sistema de Proyeccion; Condiciones Para Interseccion Entre Rectas; Modelo Matematico Para Obtener Informacion 3D; Caracteristicas de la Difraccion; Ejemplos de Patrones de la Difraccion de Fraunhofer; Redes Bidimensionales; Aberraciones del Campo Difractado; Aberraciones en Sistemas Opticos; Aberraciones de Tercer Orden o de Seidel; Arreglo Experimental; Orientacion de la Camara CCD; Posicion de la Camara CCD Para Mayor Sensibilidad al Cambio de Posicion de un Punto Imagen Dependiendo de la Forma de la Superficie para un Punto Respectivo; Obtencion de un Mayor Numero de Puntos Proyectados con el Arreglo de Tres Rejillas de Difraccion; Calibracion del Arreglo de Rejillas de Difraccion; Determinacion de las Coordenadas en el Plano Imagen; Determinacion de las Coordenadas de los Puntos Proyecctados Sobre la Superficie a Medir Considerando Distancias Minimas; Evaluacion de la Distorcion de la Lente de Camara CCD; Sistema de Proyeccion; Posicion de los Puntos via Determinacion del Centroide; Correspondencia Entre Puntos Objeto y Puntos Imagen Utilizando Como Fuentes de luz dos Laseres de Dos Laseres de Diferente Longitud de Onda; Evaluacion de la Distoricion de la Lente de la Camara CCD; Medicion de Superficies
UR  - http://132.248.9.9:8080/tesdig/Procesados_2005/0602248/Index.html
ER  -