TY  - BOOK
AU  - Breitenstein,O.
AU  - Warta,W.
AU  - Langenkamp,M.
TI  - Lock-in thermography: basics and use for evaluating electronic devices and materials 
T2  - Springer series in advanced microelectronics
SN  - 9783642024160
AV  - TK7870.25 B74 2010
PY  - 2010///
CY  - Heidelberg
PB  - Springer Verlag
KW  - Aparatos e instrumentos electrónicos
KW  - Propiedades térmicas
KW  - Pruebas
KW  - Semiconductores
KW  - Termografía
ER  -