Breitenstein, O. <br/><br/>
Lock-in thermography :  basics and use for evaluating electronic devices and materials / 
O. Breitenstein, W. Warta, M. Langenkamp 
 - 2nd ed. 
 - x, 255 páginas :  ilustraciones (algunas a color) 
 - Springer series in advanced microelectronics ;  10 .
<br/><br/><label>ISBN: </label>9783642024160 
<br/><br/><label>Subjects--Topical Terms: </label><br/>Aparatos e instrumentos electrónicos--Propiedades térmicas<br/>Aparatos e instrumentos electrónicos--Pruebas<br/>Semiconductores--Propiedades térmicas<br/>Termografía
<br/><br/><label>LC Class. No.: </label>TK7870.25  / B74 2010