TY  - BOOK
AU  - Wang,Laung-Terng
AU  - Stroud,Charles E.
AU  - Touba,Nur A.
TI  - System-on-chip test architectures: nanometer design for testability 
T2  - The Morgan Kaufmann series in systems on silicon
SN  - 9780123739735 (empastado, cubierta dura : papel alcalino)
AV  - TK7895.E42 S98
U1  - 621.39/5 22
PY  - 2008///
CY  - Amsterdam
PB  - M. Kaufmann
KW  - Sistemas en un chip
KW  - Pruebas
KW  - Circuitos integrados en muy gran escala
KW  - Diseño
ER  -