System-on-chip test architectures :  nanometer design for testability / 
edited by Laung-Terng Wang, Charles E. Stroud, Nur A. Touba 
 - xxxvi, 856 páginas :  ilustraciones 
 - The Morgan Kaufmann series in systems on silicon .
<br/><br/><label>ISBN: </label>9780123739735 (empastado, cubierta dura : papel alcalino) 012373973X (empastado, cubierta dura : papel alcalino) 
<br/><br/><label>Subjects--Topical Terms: </label><br/>Sistemas en un chip--Pruebas<br/>Circuitos integrados en muy gran escala--Pruebas<br/>Circuitos integrados en muy gran escala--Diseño
<br/><br/><label>LC Class. No.: </label>TK7895.E42  / S98 
<br/><br/><label>Dewey Class. No.: </label>621.39/5