TY  - BOOK
AU  - Nakamura,Takashi
TI  - Terrestrial neutron-induced soft errors in advanced memory devices
SN  - 9789812778819
AV  - TK7895.M4 T47
U1  - 621.39/732 22
PY  - 2008///
CY  - Hackensack, New Jersey
PB  - World Scientific
KW  - Memorias de semiconductores
KW  - Irradiación neutrónica
KW  - Dosimetría de la radiación
KW  - Física nuclear
ER  -