Terrestrial neutron-induced soft errors in advanced memory devices / 
Takashi Nakamura ... [y otros.] 
 - xxii, 343 páginas :  hojas (algunas a color) 
<br/><br/><label>ISBN: </label>9789812778819 9812778810 
<br/><br/><label>Subjects--Topical Terms: </label><br/>Memorias de semiconductores<br/>Irradiación neutrónica<br/>Dosimetría de la radiación<br/>Física nuclear
<br/><br/><label>LC Class. No.: </label>TK7895.M4  / T47 
<br/><br/><label>Dewey Class. No.: </label>621.39/732