TY  - BOOK
AU  - Wang,Laung-Terng
AU  - Wu,Cheng-Wen
AU  - Wen,Xiaoqing
TI  - VLSI test principles and architectures: design for testability 
T2  - The Morgan Kaufmann series in systems on silicon
SN  - 0123705975 (encuadernado en tela : papel alcalino)
AV  - TK7874.75 V5767
U1  - 621.39/5 22
PY  - 2006///
CY  - Amsterdam, San Francisco, California
PB  - Elsevier, Morgan kaufmann
KW  - Circuitos integrados en muy gran escala
KW  - Pruebas
KW  - Diseño y construcción
ER  -