TY  - BOOK
AU  - Sachdev,Manoj
TI  - Defect oriented testing for CMOS analog and digital circuits
T2  - Frontiers in electronic testing
SN  - 0792380835 (encuadernado)
AV  - TK7871.99M44 S33
U1  - 621.3815 21
PY  - 1998///
CY  - Boston
PB  - Kluwer Academic
KW  - Semiconductores complementarios de óxido metálico
KW  - Pruebas
KW  - Defectos
KW  - Circuitos integrados lineales
KW  - Circuitos integrados digitales
N1  - Incluye referencias bibliograficas e indices
ER  -