Sachdev, Manoj, <br/><br/>
Defect oriented testing for CMOS analog and digital circuits / 
by Manoj Sachdev 
 - xiv, 308 páginas :  ilustraciones ; 
 - Frontiers in electronic testing .
<br/><br/>Incluye referencias bibliograficas e indices. 
<br/><br/><label>ISBN: </label>0792380835 (encuadernado) 
<br/><br/><label>Subjects--Topical Terms: </label><br/>Semiconductores complementarios de óxido metálico--Pruebas<br/>Semiconductores complementarios de óxido metálico--Defectos<br/>Circuitos integrados lineales--Pruebas<br/>Circuitos integrados digitales--Pruebas
<br/><br/><label>LC Class. No.: </label>TK7871.99M44  / S33 
<br/><br/><label>Dewey Class. No.: </label>621.3815