Riesgo y volatilidad en los mercados accionarios emergentes : medición del VaR y CVaR aplicando la teoría de valor extremo / tesis que para obtener el grado de Doctor en Ingeniería de Sistemas, presenta Raúl de Jesús Gutiérrez ; asesor Edgar Ortiz Calisto
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Doctorado en Ingeniería de Sistemas UNAM, Facultad de Ingeniería, 2008
Acceso libre
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