Tesis Maestria (Maestria en Ingenieria)-UNAM, Facultad de Ingenieria

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Base Matematica Para Obtencion de Informacion Tridimensional

Metodos de luz Estructurada, El Problema de Correspondencia.

Metodo de Posdamer-Altshuler

Metodo de Griffin-Narashimhan-Yee.

Metodo de Maruyama-Abe

Propuesta de Utilizar Rejillas de Difraccion Rectangulares como Sistema de Proyeccion

Condiciones Para Interseccion Entre Rectas.

Modelo Matematico Para Obtener Informacion 3D

Caracteristicas de la Difraccion.

Ejemplos de Patrones de la Difraccion de Fraunhofer

Redes Bidimensionales

Aberraciones del Campo Difractado

Aberraciones en Sistemas Opticos

Aberraciones de Tercer Orden o de Seidel

Arreglo Experimental.

Orientacion de la Camara CCD

Posicion de la Camara CCD Para Mayor Sensibilidad al Cambio de Posicion de un Punto Imagen Dependiendo de la Forma de la Superficie para un Punto Respectivo

Obtencion de un Mayor Numero de Puntos Proyectados con el Arreglo de Tres Rejillas de Difraccion.

Calibracion del Arreglo de Rejillas de Difraccion.

Determinacion de las Coordenadas en el Plano Imagen

Determinacion de las Coordenadas de los Puntos Proyecctados Sobre la Superficie a Medir Considerando Distancias Minimas

Evaluacion de la Distorcion de la Lente de Camara CCD

Sistema de Proyeccion.

Posicion de los Puntos via Determinacion del Centroide.

Correspondencia Entre Puntos Objeto y Puntos Imagen Utilizando Como Fuentes de luz dos Laseres de Dos Laseres de Diferente Longitud de Onda

Evaluacion de la Distoricion de la Lente de la Camara CCD

Medicion de Superficies