Aberration-corrected imaging in transmission electron microscopy : an introduction / Rolf Erni
Tipo de material: TextoEditor: London : Singapore : ICP/Imperial College Press ; World Scientific Publishing, c2010Descripción: xii, 335 páginas : hojas (algunas a color)Tipo de contenido: texto Tipo de medio: sin medio Tipo de portador: volumenISBN: 9781848165366 (empastado, cubierta dura); 1848165366 (empastado, cubierta dura)Tema(s): Microscopía electrónica de transmisión | AberraciónClasificación CDD: 502.825 Clasificación LoC:QH212.T7 | E76Tipo de ítem | Biblioteca actual | Colección | Clasificación | Copia número | Estado | Fecha de vencimiento | Código de barras | Reserva de ítems |
---|---|---|---|---|---|---|---|---|
Libros | Libros Libros | Coleccion General | QH212.T7 E76 (Navegar estantería(Abre debajo)) | 1 | Disponible | 126149 |
Total de reservas: 0
Navegando Libros Estantes, Ubicación: Libros, Código de colección: Coleccion General Cerrar el navegador de estanterías (Oculta el navegador de estanterías)
QH212.S28 S33 Scanning electrochemical microscopy / | QH212.S3 R44 Image formation in low-voltage scanning electron microscopy | QH212.S33 F676 Scanning probe microscopy : | QH212.T7 E76 Aberration-corrected imaging in transmission electron microscopy : | QH251 A55 Photo micrography / | QH251 B43 Practical photomicrography / | QH266 F5 Boolean matrix and its application : |
No hay comentarios en este titulo.