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System-on-chip test architectures : nanometer design for testability / edited by Laung-Terng Wang, Charles E. Stroud, Nur A. Touba
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TextoSeries The Morgan Kaufmann series in systems on siliconEditor: Amsterdam : M. Kaufmann, 2008Descripción: xxxvi, 856 páginas : ilustracionesTipo de contenido: texto Tipo de medio: sin medio Tipo de portador: volumenISBN: 9780123739735 (empastado, cubierta dura : papel alcalino); 012373973X (empastado, cubierta dura : papel alcalino)Tema(s): Sistemas en un chip -- Pruebas | Circuitos integrados en muy gran escala -- Pruebas | Circuitos integrados en muy gran escala -- DiseñoClasificación CDD: 621.39/5 Clasificación LoC:TK7895.E42 | S98
| Tipo de ítem | Biblioteca actual | Colección | Clasificación | Copia número | Estado | Fecha de vencimiento | Código de barras | Reserva de ítems |
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Libros
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Libros Libros | Coleccion General | TK7895.E42 S98 (Navegar estantería(Abre debajo)) | 1 | Disponible | 117109 |
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