Fundamental principles of engineering nanometrology / Richard K. Leach
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Tipo de ítem | Biblioteca actual | Colección | Clasificación | Copia número | Estado | Fecha de vencimiento | Código de barras | Reserva de ítems |
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Libros Libros | Coleccion General | TA174.7 L43 (Navegar estantería(Abre debajo)) | 1 | Disponible | 126716 |
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