Terrestrial neutron-induced soft errors in advanced memory devices / Takashi Nakamura ... [y otros.]
Tipo de material: TextoEditor: Hackensack, New Jersey : World Scientific, c2008Descripción: xxii, 343 páginas : hojas (algunas a color)Tipo de contenido: texto Tipo de medio: sin medio Tipo de portador: volumenISBN: 9789812778819; 9812778810Tema(s): Memorias de semiconductores | Irradiación neutrónica | Dosimetría de la radiación | Física nuclearClasificación CDD: 621.39/732 Clasificación LoC:TK7895.M4 | T47Tipo de ítem | Biblioteca actual | Colección | Clasificación | Copia número | Estado | Fecha de vencimiento | Código de barras | Reserva de ítems |
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Libros | Libros Libros | Coleccion General | TK7895.M4 T47 (Navegar estantería(Abre debajo)) | 1 | Disponible | 124260 |
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