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Scanning probe microscopy : atomic scale engineering by forces and currents / A. Foster, W. Hofer
Tipo de material:
TextoSeries Nanoscience and technologyEditor: New York : Springer Science+Business, c2006Descripción: xiv, 281 páginas : ilustracionesTipo de contenido: texto Tipo de medio: sin medio Tipo de portador: volumenISBN: 9780387400907; 0387400907Tema(s): Microscopia exploradora de sondasClasificación CDD: 502.8/2 Clasificación LoC:QH212.S33 | F676
| Tipo de ítem | Biblioteca actual | Colección | Clasificación | Copia número | Estado | Fecha de vencimiento | Código de barras | Reserva de ítems |
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Libros
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Libros Libros | Coleccion General | QH212.S33 F676 (Navegar estantería(Abre debajo)) | 1 | Disponible | 115756 |
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compra 2013/06/06 1662.84
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