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A unified approach for timing verification and delay fault testing / Mukund Sivaraman and Andrzej J. Strojwas
Tipo de material:
TextoIdioma: ENG Editor: Boston : Kluwer Academic, c1998Descripción: xv, 155 páginas : ilustracionesTipo de contenido: texto Tipo de medio: sin medio Tipo de portador: volumenISBN: 0792380797 (papel alcalino)Tema(s): Circuitos integrados digitales -- Diseño y construcción -- Procesamiento de datos | Circuitos integrados digitales -- Pruebas | Localización de fallas eléctricas | Circuitos integrados -- VerificaciónClasificación CDD: 621.39/5/0287 Clasificación LoC:TK7874.65 | S58
| Tipo de ítem | Biblioteca actual | Colección | Clasificación | Copia número | Estado | Fecha de vencimiento | Código de barras | Reserva de ítems |
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Libros
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Libros Libros | Coleccion General | TK7874.65 S58 (Navegar estantería(Abre debajo)) | 1 | Disponible | 108858 | ||
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Includes bibliographical references (p. [139]-152) and index.
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