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Defect oriented testing for CMOS analog and digital circuits / by Manoj Sachdev
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TextoIdioma: ENG Series Frontiers in electronic testingEditor: Boston : Kluwer Academic, c1998Descripción: xiv, 308 páginas : ilustracionesTipo de contenido: texto Tipo de medio: sin medio Tipo de portador: volumenISBN: 0792380835 (encuadernado)Tema(s): Semiconductores complementarios de óxido metálico -- Pruebas | Semiconductores complementarios de óxido metálico -- Defectos | Circuitos integrados lineales -- Pruebas | Circuitos integrados digitales -- PruebasClasificación CDD: 621.3815 Clasificación LoC:TK7871.99M44 | S33
| Tipo de ítem | Biblioteca actual | Colección | Clasificación | Copia número | Estado | Fecha de vencimiento | Código de barras | Reserva de ítems |
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Libros
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Libros Libros | Coleccion General | TK7871.99M44 S33 (Navegar estantería(Abre debajo)) | 1 | Disponible | 108847 | ||
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Libros Libros | Coleccion General | TK7871.99M44 S33 (Navegar estantería(Abre debajo)) | 1 | Disponible | 108848 |
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