Universidad Nacional Autónoma de México
Facultad de Ingeniería. Posgrado
Catálogo de la Biblioteca "Dr. Enzo Levi”

Imagen de cubierta de Amazon
Imagen de Amazon.com

Pattern classification : a unified view of statistical and neural approaches / Jurgen Schurmann

Por: Schurmann, Jurgen [autor]Tipo de material: TextoTextoIdioma: ENG Editor: New York : J. Wiley, c1996Descripción: xvii, 373 páginas : ilustracionesTipo de contenido: texto Tipo de medio: sin medio Tipo de portador: volumenISBN: 0471135348 (papel libre de acido)Tema(s): Sistemas de reconocimiento de configuraciones | Reconocimiento de modelos | Redes neuronales (Computación) | Decisiones estadísticasClasificación CDD: 006.4 Clasificación LoC:Q327 | S33 1996
Etiquetas de esta biblioteca: No hay etiquetas de esta biblioteca para este título. Ingresar para agregar etiquetas.
Valoración
    Valoración media: 0.0 (0 votos)
Existencias
Tipo de ítem Biblioteca actual Colección Clasificación Copia número Estado Fecha de vencimiento Código de barras Reserva de ítems
Libros Libros Libros
Libros
Coleccion General Q327 S33 1996 (Navegar estantería(Abre debajo)) 1 Disponible 108414
Total de reservas: 0

"A Wiley-Interscience publication."

Includes bibliographical references (p. 364-367) and index.

No hay comentarios en este titulo.

para colocar un comentario.


Universidad Nacional Autónoma de México 

Biblioteca "Dr. Enzo Levi” Conjunto sur, Edificio de Posgrado de la Facultad de Ingeniería

©2024 Dirección General de Bibliotecas y Servicios Digitales de Información, UNAM

Aviso de Privacidad