Digital hardware testing : transistor-level fault modeling and testing / Rochit Rajsuman
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Tipo de ítem | Biblioteca actual | Colección | Clasificación | Copia número | Estado | Fecha de vencimiento | Código de barras | Reserva de ítems |
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Libros Libros | Coleccion General | TK7888.4 R35 (Navegar estantería(Abre debajo)) | 1 | Disponible | 103246 |
Total de reservas: 0
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