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Proceedings First asian test symposium (ATS'92) : november 26-27, 1992 Hiroshima , Japan / sponsored by the IEEE Computer Society Test Technology Technical Committee in cooperation with Special Interest Group on Design Automation Information Processing Society of Japan, Technical Group on Fault Tolerant Systems IEICI, Japan Society for the Promotion of Science, 132nd committteee (Electron and Ion Beam Science and Technology)
Tipo de material:
TextoEditor: Los Alamitos California : IEEE Computer Society, 1992Descripción: 259 páginasTipo de contenido: texto Tipo de medio: sin medio Tipo de portador: volumenISBN: 0818629851Tema(s): Pruebas -- CongresosClasificación LoC:TA401.3 | A75 1992
| Tipo de ítem | Biblioteca actual | Colección | Clasificación | Copia número | Estado | Fecha de vencimiento | Código de barras | Reserva de ítems |
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Libros
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Libros Libros | Coleccion General | TA401.3 A75 1992 (Navegar estantería(Abre debajo)) | 1 | Disponible | 102069 |
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