Microelectronic reliability : Integrity assessment and assurance / Emiliano pollino, [edit.]
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Tipo de ítem | Biblioteca actual | Colección | Clasificación | Copia número | Estado | Fecha de vencimiento | Código de barras | Reserva de ítems |
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Libros Libros | Coleccion General | TK7871.85 A2813 (Navegar estantería(Abre debajo)) | 1 | Disponible | 93476 |
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Traduccion de: l'affidabilita dei componenti elettronici a semiconduttore
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