Universidad Nacional Autónoma de México
Facultad de Ingeniería. Posgrado
Catálogo de la Biblioteca "Dr. Enzo Levi”

difractometria de rayos X: aplicaciones al estudio de los m-ateriales de Construcción / Jose Luis Alonso Ramirez.

Alonso Ramírez, José Luis

difractometria de rayos X: aplicaciones al estudio de los m-ateriales de Construcción / Jose Luis Alonso Ramirez. - Madrid, España : LCEMC - 86 p. - Publicación No. 194 / Laboratorio Central de Ensayo de Mate-riales de Construcción .


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