Universidad Nacional Autónoma de México
Facultad de Ingeniería. Posgrado
Catálogo de la Biblioteca "Dr. Enzo Levi”

Lock-in thermography :

Breitenstein, O.

Lock-in thermography : basics and use for evaluating electronic devices and materials / O. Breitenstein, W. Warta, M. Langenkamp - 2nd ed. - x, 255 páginas : ilustraciones (algunas a color) - Springer series in advanced microelectronics ; 10 .

9783642024160


Aparatos e instrumentos electrónicos--Propiedades térmicas
Aparatos e instrumentos electrónicos--Pruebas
Semiconductores--Propiedades térmicas
Termografía

TK7870.25 / B74 2010


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