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System-on-chip test architectures : nanometer design for testability / edited by Laung-Terng Wang, Charles E. Stroud, Nur A. Touba - xxxvi, 856 páginas : ilustraciones - The Morgan Kaufmann series in systems on silicon .

ISBN: 9780123739735 (empastado, cubierta dura : papel alcalino) 012373973X (empastado, cubierta dura : papel alcalino)

Subjects--Topical Terms:
Sistemas en un chip--Pruebas
Circuitos integrados en muy gran escala--Pruebas
Circuitos integrados en muy gran escala--Diseño

LC Class. No.: TK7895.E42 / S98

Dewey Class. No.: 621.39/5