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Terrestrial neutron-induced soft errors in advanced memory devices / Takashi Nakamura ... [y otros.] - xxii, 343 páginas : hojas (algunas a color)

ISBN: 9789812778819 9812778810

Subjects--Topical Terms:
Memorias de semiconductores
Irradiación neutrónica
Dosimetría de la radiación
Física nuclear

LC Class. No.: TK7895.M4 / T47

Dewey Class. No.: 621.39/732