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VLSI test principles and architectures : design for testability / edited by Laung-Terng Wang, Cheng-Wen Wu, Xiaoqing Wen - xxx, 777 páginas : ilustraciones - The Morgan Kaufmann series in systems on silicon .

ISBN: 0123705975 (encuadernado en tela : papel alcalino) 978-0-12-370597-6 (encuadernado en tela : papel alcalino)

Subjects--Topical Terms:
Circuitos integrados en muy gran escala--Pruebas
Circuitos integrados en muy gran escala--Diseño y construcción

LC Class. No.: TK7874.75 / V5767

Dewey Class. No.: 621.39/5