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Sivaraman, Mukund, 1970-,

A unified approach for timing verification and delay fault testing / Mukund Sivaraman and Andrzej J. Strojwas - xv, 155 páginas : ilustraciones ;

Includes bibliographical references (p. [139]-152) and index.

ISBN: 0792380797 (papel alcalino)

Subjects--Topical Terms:
Circuitos integrados digitales--Diseño y construcción--Procesamiento de datos
Circuitos integrados digitales--Pruebas
Localización de fallas eléctricas
Circuitos integrados--Verificación

LC Class. No.: TK7874.65 / S58

Dewey Class. No.: 621.39/5/0287