Universidad Nacional Autónoma de México
Facultad de Ingeniería. Posgrado
Catálogo de la Biblioteca "Dr. Enzo Levi”

Microelectronic reliability :

Microelectronic reliability : Integrity assessment and assurance / Emiliano pollino, [edit.] - 537 páginas

Traduccion de: l'affidabilita dei componenti elettronici a semiconduttore

0890063508


Aparatos e instrumentos electrónicos
Semiconductores--Confiabilidad

TK7871.85 / A2813


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Biblioteca "Dr. Enzo Levi” Conjunto sur, Edificio de Posgrado de la Facultad de Ingeniería

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